보유장비 상세
섬유소재 표면분석용 주사전자현미경 (Scaning electron microscope)
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세부사양 | - Resolution 3.0㎚ at 30kV (SE image) 7.0nm at 3kV (SE image) 4.0㎚ at 30kV (BSE image) - Magnification : x6 ~ x800,000 - Accelerating voltage : 0.3 to 30㎸ - Maximum specimen size : 200㎜ dia.
- EDX (Energy Dispersive X-ray Spectrometer, X-max20, Horiba) |
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| 제조사 | Hitachi | |
| 구입년도 | 2018년 | |
| 사용용도 |